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X射線照相的主要目的是()。
A.檢驗晶粒度
B.檢驗表面質(zhì)量
C.檢驗內(nèi)部質(zhì)量
D.以上全是
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X射線照相檢測工藝參數(shù)主要是()。
A、焦距
B、管電壓、管電流
C、曝光時間
D、以上都是
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10居里鈷60γ射線源衰減到1.25居里,需要的時間約為()。
A.5年
B.1年
C.16年
D.21年
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