你可能感興趣的試題

單項(xiàng)選擇題

直探頭探傷，反射體距離小于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí)，校準(zhǔn)探測(cè)靈敏度應(yīng)采用（）。

A.磁強(qiáng)計(jì)
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對(duì)比試塊
D.以上都對(duì)

單項(xiàng)選擇題

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。

A.作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷的嚴(yán)重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定的缺陷實(shí)際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體

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直探頭從端面對(duì)長(zhǎng)條形工件探傷時(shí)，容易產(chǎn)生（）。

你可能感興趣的試題

直探頭探傷，反射體距離小于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí)，校準(zhǔn)探測(cè)靈敏度應(yīng)采用（）。

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。

直探頭從端面對(duì)長(zhǎng)條形工件探傷時(shí)，容易產(chǎn)生（）。

直探頭探傷，反射體距離小于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí)，校準(zhǔn)探測(cè)靈敏度應(yīng)采用（）。

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。