A.被測設(shè)備環(huán)境溫度相對(duì)增大時(shí),絕緣電阻降低 B.被測設(shè)備表面臟污會(huì)使其絕緣電阻顯著下降 C.被測設(shè)備停電后,放電的殘余電荷或試驗(yàn)后放電的殘余電荷,造成試驗(yàn)或再次試驗(yàn)的絕緣偏大或偏小 D.電容耦合,帶電設(shè)備將使被測的設(shè)備帶上一定的感應(yīng)電壓,將影響其絕緣電阻測量值
A.直流耐壓和泄漏電流測試 B.絕緣電阻和吸收比試驗(yàn) C.介質(zhì)損耗角正切值測試 D.交流耐壓試驗(yàn)
A.絕緣性能試驗(yàn) B.電氣設(shè)備特性試驗(yàn) C.電氣設(shè)備性能試驗(yàn) D.繼電保護(hù)特性試驗(yàn)