問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】在超聲波探傷中，雙晶探頭用于探測(cè)工件中什么部位的缺陷？

答案：

雙晶探頭用于探測(cè)工件近表面缺陷。
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問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】在超聲波探傷中，直探頭能發(fā)現(xiàn)什么樣的缺陷？
答案：

主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的缺陷。
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【簡(jiǎn)答題】在探傷掃查中，探頭的掃查方向怎樣確定？
答案：

探頭的方向（尤其是斜探頭）應(yīng)根據(jù)缺陷存在的規(guī)律進(jìn)行布局和掃查。
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