單項(xiàng)選擇題

使用K型掃查陣列式探頭探測(cè)焊縫，增加發(fā)收晶片數(shù)量主要是為了提高（）。

A、探傷靈敏度
B、掃查密度
C、定位精度
D、定量精度

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單項(xiàng)選擇題

鋼軌探傷儀37°探頭可探測(cè)軌腰投影范圍內(nèi)軌底的（）。

A、縱向裂紋
B、水平裂紋
C、橫向裂紋
D、核傷

單項(xiàng)選擇題

用橫波檢測(cè)與軌底面垂直的缺陷時(shí)，對(duì)缺陷反射最不利的角度是（）。

A、30°
B、40°
C、50°
D、30°和60°

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