A、斜平行掃查 B、串列掃查 C、雙晶斜探頭前后掃查 D、交叉掃查
A、探傷速度較快 B、在焦線長(zhǎng)度內(nèi)回波幅度隨缺陷長(zhǎng)度增大而提高 C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片形晶片 D、以上全部
A、對(duì)短缺陷有較高探測(cè)靈敏度 B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡 C、缺陷長(zhǎng)度達(dá)到一定尺寸后,回波幅度不隨長(zhǎng)度而變化 D、探傷速度較慢