A.掩蓋細(xì)小缺陷的磁痕,是對(duì)比度下降 B.影響磁懸液的流動(dòng) C.檢測(cè)靈敏度太高,容易產(chǎn)生偽顯示 D.在工件上不流動(dòng),容易產(chǎn)生過(guò)度背景
A.磁痕的顯示程度不清晰,解釋可能出錯(cuò) B.將影響磁懸液的正常流動(dòng) C.熒光磁痕的顯示強(qiáng)度發(fā)生變化,解釋可能出錯(cuò) D.產(chǎn)生偽顯示,影響缺陷的檢測(cè)率
A.A型試片只使用于連續(xù)法 B.需將有槽的一面朝向工件帖于檢測(cè)面上 C.A1-30/100試片低于A1-15/100試片的靈敏度等級(jí) D.施加磁懸液時(shí)可以不采用連續(xù)法