問答題

【簡答題】現(xiàn)場測量tgδ時,往往出現(xiàn)-tgδ,闡述產(chǎn)生-tgδ的原因?

答案:

產(chǎn)生-tgδ的原因有:電場干擾、磁場干擾、標(biāo)準電容器受潮和存在T型干擾網(wǎng)絡(luò)。

題目列表

你可能感興趣的試題

問答題

【簡答題】影響絕緣電阻測量的因素有哪些,各產(chǎn)生什么影響?

答案: 影響測量的因素有:
(1)溫度。溫度升高,絕緣介質(zhì)中的極化加劇,電導(dǎo)增加,絕緣電阻降低。
(2)濕度...
問答題

【簡答題】直流泄漏試驗和直流耐壓試驗相比,其作用有何不同?

答案: 直流泄漏試驗和直流耐壓試驗方法雖然一致,但作用不同。直流泄漏試驗是檢查設(shè)備的絕緣狀況,其試驗電壓較低,直流耐壓試驗是考核...
微信掃碼免費搜題