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對(duì)開(kāi)閉所一般缺陷,運(yùn)行人員在巡視檢查運(yùn)行設(shè)備時(shí),一經(jīng)發(fā)現(xiàn)立即詳細(xì)記入缺陷記錄簿中,并及時(shí)填寫(xiě)缺陷()卡片。
A.報(bào)修
B.臨修
C.檢修
D.傳遞
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單項(xiàng)選擇題
由繞組或磁路組成的電氣設(shè)備,由于設(shè)計(jì)不合理、運(yùn)行不佳和磁路不正常引起的磁滯、磁飽和與漏磁,或者由于鐵芯片間絕緣損壞,造成()時(shí),均可引起局部發(fā)熱。
A.斷路
B.開(kāi)路
C.短路
D.回路
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單項(xiàng)選擇題
由于表面污穢或機(jī)械力作用可能引起絕緣性能降低造成的過(guò)熱故障,如絕緣子劣化或嚴(yán)重污穢引起泄漏電流()而發(fā)熱。
A.降低
B.增強(qiáng)
C.減少
D.增大
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