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判斷電壓互感器、耦合電容器高頻局部放電檢測(cè)正常的標(biāo)準(zhǔn)為與()比較無(wú)典型放電圖譜。
A.標(biāo)準(zhǔn)圖譜
B.歷史圖譜
C.相鄰設(shè)備圖譜
D.同批次設(shè)備圖譜
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單項(xiàng)選擇題
套管相對(duì)介質(zhì)介質(zhì)損耗因數(shù)檢測(cè)周期為()。
A.半年至1年
B.1年至2年
C.2年至3年
D.3年至4.5年
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判斷套管高頻局部放電檢測(cè)正常的標(biāo)準(zhǔn)為與()比較無(wú)典型放電圖譜。
A.標(biāo)準(zhǔn)圖譜
B.歷史圖譜
C.相鄰設(shè)備圖譜
D.同批次設(shè)備圖譜
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