- 搜標(biāo)題
- 搜題干
- 搜選項(xiàng)
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述在哪些測(cè)試模塊中應(yīng)優(yōu)先考慮引入自動(dòng)化測(cè)試？自動(dòng)化測(cè)試可以帶來(lái)哪些優(yōu)點(diǎn)？
答案：
當(dāng)具有下列情況時(shí)需要考慮進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試：
（1）測(cè)試個(gè)案的生成，包括測(cè)試輸入、測(cè)試輸出、測(cè)試操作指令等。
（1）測(cè)試個(gè)案的生成，包括測(cè)試輸入、測(cè)試輸出、測(cè)試操作指令等。
你可能感興趣的試題
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】單元測(cè)試的主要任務(wù)是什么？
答案：
單元測(cè)試針對(duì)每個(gè)程序的模塊，解決5個(gè)方面的測(cè)試問(wèn)題：模塊接口、局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)、邊界條件、獨(dú)立的路徑和錯(cuò)誤處理。詳細(xì)來(lái)說(shuō)：<...
問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)介WEB應(yīng)用程序在壓力下的常見(jiàn)錯(cuò)誤類(lèi)型。
答案：
有兩種錯(cuò)誤類(lèi)型是：
（1）內(nèi)存泄漏（Memoryleak）：一種極難檢測(cè)的現(xiàn)象。內(nèi)存泄漏經(jīng)常發(fā)生在已發(fā)行的產(chǎn)...
（1）內(nèi)存泄漏（Memoryleak）：一種極難檢測(cè)的現(xiàn)象。內(nèi)存泄漏經(jīng)常發(fā)生在已發(fā)行的產(chǎn)...
