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A.既用于考察測定的準確度，又可用于考察測定的精密度
B.只用于考察測定的精密度
C.只用于考察測定的準確度
D.不能考察測定的準確度
E.不能考察測定的精密度

A.同批兩個質(zhì)控結果之差值超過4s，即一個質(zhì)控結果超過均值+2s，另一質(zhì)控結果超過均值-2s，表示存在隨機誤差
B.一個質(zhì)控結果超過均值±3s，為違背此規(guī)則，提示存在隨機誤差
C.兩個連續(xù)質(zhì)控結果同時超過均值+2s或均值-2s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
D.一個質(zhì)控品連續(xù)的四次測定結果都超過均值+1s或均值-1s，或兩個質(zhì)控品連續(xù)兩次測定都超過均值+1s或均值-1s，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差
E.十個連續(xù)的質(zhì)控結果在平均數(shù)一測，為違背此規(guī)則，表示存在系統(tǒng)誤差