在邁克耳遜干涉儀的反射鏡M2平移距離為0.3220mm時(shí),測(cè)得某單色光的干涉條紋移過(guò)1024條,則該單色光的波長(zhǎng)為:()
A.6.28×10-7m B.5×10-7m C.4×10-7m D.7×10-7m
用劈尖干涉法可檢測(cè)工件表面缺陷,當(dāng)波長(zhǎng)為λ的單色平行光垂直入射時(shí),若觀察到的干涉條紋如圖所示,每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切,則工件表面與條紋彎曲處對(duì)應(yīng)的部分應(yīng):()
A.凸起,且高度為λ/4 B.凸起,且高度為λ/2 C.凹陷,且深度為λ/2 D.凹陷,且深度為λ/4
A.向棱邊方向平移,條紋間隔變小 B.向棱邊方向平移,條紋間隔變大 C.向棱邊方向平移,條紋間隔不變 D.向遠(yuǎn)離棱邊的方向平移,條紋間隔不變