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問答題
【簡答題】表層追蹤要點(diǎn)。
答案：
抽查上部樣品時(shí)，在取完常規(guī)樣后，在常規(guī)取樣點(diǎn)以外的部位隨機(jī)布點(diǎn)取樣，鏟除表層50～100mm后，呈水平帶狀鏟取樣品，取樣...
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