A、被測(cè)件應(yīng)有受控標(biāo)識(shí) B、被測(cè)件應(yīng)有非受控標(biāo)識(shí) C、被測(cè)件應(yīng)是光盤(pán)形式 D、被測(cè)件應(yīng)是軟盤(pán)形式
A、內(nèi)部質(zhì)量 B、外部質(zhì)量 C、使用質(zhì)量 D、測(cè)試結(jié)果
A、用于測(cè)試的測(cè)試用例 B、用于測(cè)試的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)(硬件、軟件以及它們的配置) C.產(chǎn)品接收清單 D.產(chǎn)品發(fā)布日期