A.Alpha測(cè)試 B.白盒測(cè)試 C.回歸測(cè)試 D.Beta測(cè)試
A.比其他測(cè)試方法節(jié)省更多的成本 B.確保運(yùn)行速度更快的新硬件與新系統(tǒng)兼容 C.確保新系統(tǒng)滿足功能要求 D.提高并行處理時(shí)間的彈性
A.測(cè)試環(huán)境可能沒(méi)有充分的控制機(jī)制來(lái)確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。 B.由于使用生產(chǎn)數(shù)據(jù),測(cè)試環(huán)境可能產(chǎn)生不準(zhǔn)確的結(jié)果。 C.測(cè)試環(huán)境中的硬件可能與生產(chǎn)環(huán)境中的硬件不同。 D.測(cè)試環(huán)境可能沒(méi)有實(shí)現(xiàn)充分的訪問(wèn)控制來(lái)確保數(shù)據(jù)機(jī)密性。