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JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:標(biāo)準(zhǔn)試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
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使用靈敏度試片的目的之一是要了解檢測(cè)面上磁場(chǎng)的方向和強(qiáng)度大小。
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A型試片上的標(biāo)值15/50是指試片厚度為50μm,人工缺陷槽深為15μm。
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