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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:當辯認細小缺陷磁痕時應用2~10倍放大鏡進行觀察。
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熒光磁粉檢測時,磁痕的評定應在暗室或暗處進行,暗室或暗處可見光照度應不小于20Lx。
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JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:采用軸向通電法和觸頭法磁化時,為了防止電弧燒傷工件表面,應將工件和電極接觸部分清除干凈或在電極上安裝非導電物質(zhì)。
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