單項(xiàng)選擇題

單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測(cè)面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋ǎ?/h4>

A.近場(chǎng)干擾
B.材質(zhì)衰減
C.盲區(qū)
D.折射

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