問(wèn)答題

【簡(jiǎn)答題】簡(jiǎn)述單元測(cè)試的內(nèi)容。

答案: 單元測(cè)試的內(nèi)容有:
(1)模塊接口測(cè)試:對(duì)通過(guò)被測(cè)模塊的數(shù)據(jù)流進(jìn)行測(cè)試。為此,對(duì)模塊接口,包括參數(shù)表、調(diào)用子模...
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答案: 集成測(cè)試界于單元測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之間,起到“橋梁作用”,一般由開發(fā)小組采用白盒加黑盒的方式來(lái)測(cè)試,...
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【簡(jiǎn)答題】軟件測(cè)試的原則是什么?

答案: 軟件測(cè)試的原則有:
(1)應(yīng)該把測(cè)試貫穿在整個(gè)開發(fā)過(guò)程之中。事實(shí)上,從需求分析階段開始,每個(gè)階段結(jié)束之前都要進(jìn)...
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