A.空載損耗和空載電流試驗(yàn) B.絕緣電阻和介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ測(cè)量 C.局部放電測(cè)量 D.引出線(xiàn)的極性檢查試驗(yàn)
A.大于或等于12h B.大于或等于24h C.大于或等于48h D.大于或等于72h
A.整體受潮 B.整體劣化 C.小體積試品的局部缺陷 D.大體積試品的局部缺陷