問(wèn)答題

【計(jì)算題】以某一儀器靈敏度探測(cè)工件，測(cè)得F1缺陷后，用衰減器調(diào)至基準(zhǔn)高度時(shí)（如示波屏的50%），儀器衰減器讀數(shù)為32dB，此后又測(cè)得F2缺陷，調(diào)至基準(zhǔn)高度后衰減器計(jì)數(shù)為20dB，問(wèn)F1/F2差多少dB？回波高度差多少倍？

答案：

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