A、底波計算法 B、試塊法 C、通用AVG曲線法 D、以上都可以
A、斜平行掃查 B、串列掃查 C、雙晶斜探頭前后掃查 D、交叉掃查
A、探傷速度較快 B、在焦線長度內(nèi)回波幅度隨缺陷長度增大而提高 C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片形晶片 D、以上全部